掃描電鏡的電子束斑尺寸如何影響成像質量?
掃描電鏡(SEM)的電子束斑尺寸(Beam Spot Size)對成像質量有直接影響,主要涉及分辨率、信噪比和成像清晰度。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-31
掃描電鏡(SEM)的電子束斑尺寸(Beam Spot Size)對成像質量有直接影響,主要涉及分辨率、信噪比和成像清晰度。
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調整掃描電鏡(SEM)的電子束電流(Beam Current)可以影響成像的分辨率、信噪比和樣品損傷程度。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-31
提高掃描電鏡(SEM)成像的對比度有助于增強細節和樣品結構的可見性,尤其是在觀察微小或復雜結構時。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-27
掃描電鏡(SEM)樣品臺的傾斜角度對成像效果有重要影響,主要體現在以下幾個方面:
MORE INFO → 行業動態 2025-03-27
2025年3月29日-31日,2025年第二屆原子級制造論壇將在北京市舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2025-03-26
在掃描電鏡(SEM)成像中出現條紋或噪聲可能會影響圖像質量,常見的條紋和噪聲類型及其可能原因如下:
MORE INFO → 行業動態 2025-03-26
掃描電鏡(SEM)的標定(Calibration)主要用于確保測量的準確性,包括尺寸測量、放大倍率、電子束偏轉等。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-26
掃描電鏡(SEM)中常見的成像模式有多種,每種模式用于不同的分析目的,下面是一些常見的成像模式:
MORE INFO → 行業動態 2025-03-25