掃描電鏡圖像邊緣模糊是因為調焦沒調好嗎?
掃描電鏡(SEM)圖像邊緣模糊的確可能與調焦不當有關,但這只是眾多可能原因之一。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-11
掃描電鏡(SEM)圖像邊緣模糊的確可能與調焦不當有關,但這只是眾多可能原因之一。
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當掃描電鏡(SEM)樣品太大、無法放入樣品艙時,可以通過以下幾種方式解決或繞開限制:
MORE INFO → 行業動態 2025-04-11
掃描電鏡(SEM)可以非常有效地檢測金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一,尤其適用于微米甚至納米級別的缺陷觀察。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-10
掃描電鏡(SEM)圖像在放大后出現模糊,是較常見的問題,影響微納米結構觀察的清晰度與分辨率。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-10
掃描電鏡(SEM)圖像出現抖動(flickering / jittering),是一種常見但令人困擾的問題,圖像可能表現為輕微跳動、震蕩或邊緣模糊,影響成像質量和精度。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-09
掃描電鏡(SEM)中樣品在腔內出現“漂移”現象,通常表現為圖像位置緩慢移動或無法穩定對焦,嚴重時甚至圖像模糊、重影。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-09
掃描電鏡(SEM)圖像突然變黑,意味著探測器沒有接收到足夠的信號或信號完全喪失。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-08
掃描電鏡(SEM)成像過程中圖像“漂移”是指圖像在連續掃描時緩慢移動、扭曲或者抖動,這會嚴重影響圖像清晰度與可重復性。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-08