非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡下如何成像?
非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡(SEM)下成像時,由于電子束轟擊樣品會導(dǎo)致電荷積累,進而產(chǎn)生充電效應(yīng),這可能導(dǎo)致圖像畸變、漂移甚至無法成像。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-24
非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡(SEM)下成像時,由于電子束轟擊樣品會導(dǎo)致電荷積累,進而產(chǎn)生充電效應(yīng),這可能導(dǎo)致圖像畸變、漂移甚至無法成像。
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在掃描電鏡(SEM)成像過程中,樣品需要穩(wěn)定固定在樣品臺上,以避免成像時的漂移、振動或充電效應(yīng)。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-21
掃描電鏡(SEM)的空間分辨率通常通過以下幾種方法進行測定:
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-21
使用掃描電子顯微鏡(SEM)進行納米級觀察時,需要特別注意以下幾個關(guān)鍵因素,以確保高分辨率成像、準確分析,并減少可能的誤差或偽影。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-20
要提高掃描電子顯微鏡(SEM) 的成像速度,同時保持較高的分辨率,需要綜合優(yōu)化 電子束參數(shù)、掃描方式、探測器設(shè)置和信號處理。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-20
在掃描電鏡(SEM)成像過程中,漂移會導(dǎo)致圖像模糊、細節(jié)丟失,特別是在高倍率和長曝光時間下尤為明顯。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-18
普通的掃描電子顯微鏡(SEM)不能直接觀察濕樣品,因為 SEM 需要高真空環(huán)境來防止電子束散射,而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發(fā),導(dǎo)致樣品形態(tài)變化甚至損壞。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-18
在掃描電鏡(SEM)成像過程中,非導(dǎo)電樣品容易產(chǎn)生充電效應(yīng),導(dǎo)致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2025-03-17