如何優(yōu)化掃描電鏡的曝光時(shí)間以提高成像質(zhì)量?
優(yōu)化掃描電鏡(SEM)的曝光時(shí)間需要在信噪比(SNR)、分辨率、樣品損傷和成像時(shí)間之間取得平衡。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-17
優(yōu)化掃描電鏡(SEM)的曝光時(shí)間需要在信噪比(SNR)、分辨率、樣品損傷和成像時(shí)間之間取得平衡。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-17
掃描電鏡(SEM)光束偏移會(huì)導(dǎo)致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-14
掃描電鏡在對(duì)磁性材料(如鐵、鈷、鎳及其合金)成像時(shí),可能會(huì)受到磁場干擾,導(dǎo)致成像質(zhì)量下降。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-14
掃描電鏡(SEM)樣品是否可以重復(fù)使用,取決于以下幾個(gè)因素:
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-13
在掃描電子顯微鏡(SEM)成像過程中,樣品可能會(huì)受到污染,導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或影響分析結(jié)果。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-13
掃描電子顯微鏡(SEM)的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面,并通過探測產(chǎn)生的電子信號(hào)來構(gòu)建圖像。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-12
掃描電子顯微鏡(SEM)可以用于表面粗糙度分析,但其適用性取決于具體的測量需求和樣品特性。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-12
當(dāng)掃描電鏡 (SEM) 出現(xiàn)真空泄漏時(shí),會(huì)導(dǎo)致無法維持所需的真空度,影響成像質(zhì)量和設(shè)備正常運(yùn)行。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-03-11