掃描電鏡圖像上出現條紋或亮點是什么原因?
掃描電鏡(SEM)圖像上出現條紋或亮點的原因可能有多種。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-07
掃描電鏡(SEM)圖像上出現條紋或亮點的原因可能有多種。
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掃描電子顯微鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)成像的原理,是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產生的各種信號來形成圖像。
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掃描電子顯微鏡(SEM)需要真空環境,主要原因如下:
MORE INFO → 行業動態 2025-04-03
掃描電子顯微鏡(SEM)通常在高真空環境下工作,因此潮濕或液態樣品在常規 SEM 中容易脫水、蒸發、膨脹或塌陷,影響成像效果。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-03
在掃描電鏡(SEM)中,調整襯度(Contrast)和亮度(Brightness)對于增強樣品的細節非常重要,尤其是在觀察低對比度或高動態范圍的樣品時。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-02
在掃描電鏡(SEM)中,非導電樣品容易因電子束轟擊產生充電效應(charging),導致圖像失真或信號丟失。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-02
掃描電子顯微鏡(SEM)圖像對焦困難的主要原因包括樣品高度不均、電子束參數設置不當、充電效應、振動干擾等。針對不同情況,可以采取相應的調整方法來改善焦點,提高成像清晰度。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-01
在掃描電子顯微鏡(SEM)下,樣品容易發生充電效應(charging effect),主要原因是:
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