掃描電鏡可以檢測金屬表面缺陷嗎？
日期：2025-04-10
掃描電鏡（SEM）可以非常有效地檢測金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其適用于微米甚至納米級別的缺陷觀察。
SEM 能檢測的金屬表面缺陷類型包括：
裂紋與微裂紋
可觀察早期疲勞裂紋、應(yīng)力腐蝕開裂等，適用于失效分析。
孔洞與氣孔
可識別焊接或鑄造過程中產(chǎn)生的微小孔洞、疏松等問題。
表面劃痕與劃傷
放大后能清晰看到機械損傷、劃傷深度和方向。
表面粗糙度與加工痕跡
可定性觀察磨削、拋光、腐蝕等加工痕跡。
氧化層、腐蝕坑等化學(xué)反應(yīng)結(jié)果
與能譜（EDS）聯(lián)用，還能判斷腐蝕產(chǎn)物成分。
顆粒污染或異物附著
檢測金屬表面是否有附著的顆粒、灰塵或其他雜質(zhì)。
使用建議：
低加速電壓成像（如5–10?kV）：適用于表面細節(jié)觀察，避免電子束穿透。
使用二次電子模式（SEI）：提供表面形貌的高對比圖像。
搭配能譜儀（EDS）：進一步識別缺陷區(qū)域的元素組成。
斷口分析：配合斷口制樣，可判斷金屬斷裂的方式（如韌性斷裂、脆性斷裂等）。
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作者：澤攸科技