PicoFemto透射電鏡原位低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。

基本參數指標

●兼容指定型號透射電鏡及極靴；

●全溫區結構分辨率優于0.2nm；

●變溫范圍為85K-380K，溫度穩定性優于±0.1K

產品特色

●溫度連續可控，穩定性高；

●低溫下可實現對樣品施加應力及電學研究；

●穩定性高：輕松獲得大幅度運動中的高分辨像，適用于更廣泛的應用場景和樣品體系；

●很長的壽命：專利技術（專利種類：實用新型（具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿） 專利號：202020944865 .4）的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計，是公認皮實耐用的探針桿；

●很低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；

●很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；

●成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持。

應用領域

以上就是澤攸科技對透射電鏡原位低溫電學測試系統的介紹，關于整套系統價格請咨詢15756003283（微信同號）。