PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,價格請咨詢18817557412(微信同號)
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,并可在電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環境控制單元,從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
性能指標
透射電鏡指標:
● 兼容指定電鏡型號及極靴;
● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學測量指標:
● 包含一個電流電壓測試單元;
● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;
● 電流分辨率:優于100 fA;
● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;
● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。
掃描探針操縱指標:
● 粗調范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 細調范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 細調分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
低溫參數指標:
● 兼容指定型號透射電鏡及極靴;
● 全溫區結構分辨率優于0.2 nm;
● 變溫范圍為85 K-380 K,溫度穩定性優于±0.1 K。
產品特色
(1)溫度連續可控,穩定性高;
(2)低溫下可實現對樣品施加應力及電學研究;
(3)穩定性高:輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應用場景和樣品體系;
(4)很長的壽命:專利技術(專利種類:實用新型(具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿) 專利號:202020944865 .4)的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計,是公認皮實耐用的探針桿;
(5)很低維護成本:設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產,維護成本低;
(6)很大的用戶群:在國內擁有近200個高質量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術平臺供用戶交流;
(7)成熟的技術支持網絡:在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術支持網點,24小時提供技術支持。
部分國內用戶
部分國外用戶
以上就是澤攸科技對PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統的介紹,關于整套系統價格請咨詢15756003283(微信同號)