如何處理樣品以避免在掃描電鏡下發生充電偽影？
在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導電樣品容易產生充電效應，導致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-17
在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導電樣品容易產生充電效應，導致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。
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優化掃描電鏡（SEM）的曝光時間需要在信噪比（SNR）、分辨率、樣品損傷和成像時間之間取得平衡。
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掃描電鏡（SEM）光束偏移會導致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-14
掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導致成像質量下降。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-14
掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復使用，取決于以下幾個因素：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-13
在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導致圖像質量下降或影響分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-13
掃描電子顯微鏡（SEM）的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測產生的電子信號來構建圖像。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-12
掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于表面粗糙度分析，但其適用性取決于具體的測量需求和樣品特性。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-12