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掃描電鏡（SEM）和傳統光學顯微鏡在原理、分辨率、放大倍數和樣品類型等方面存在顯著的不同。以下是它們之間的主要區別：

原理：傳統光學顯微鏡使用可見光來觀察樣品，而掃描電鏡使用電子束。傳統光學顯微鏡利用透射光的原理，而掃描電鏡則利用從樣品表面反射、散射的電子束。

分辨率：傳統光學顯微鏡的分辨率通常受限于光的波長，大約在數百納米級別。相比之下，掃描電鏡的分辨率較高，通常可以達到亞納米級別甚至更好，取決于具體的系統和操作條件。

放大倍數：傳統光學顯微鏡的放大倍數通常在幾百倍到數千倍之間。而掃描電鏡具有更大的放大倍數范圍，通常從幾百倍到數十萬倍不等，甚至可以達到百萬倍級別。

樣品類型：傳統光學顯微鏡適用于透明樣品和薄片，例如生物細胞、組織切片和液晶樣品等。掃描電鏡適用于非透明樣品，包括金屬、陶瓷、聚合物、納米材料、粉末等。此外，掃描電鏡通常需要對樣品進行特殊的制備，如金屬涂層或真空處理。

表面拓撲：傳統光學顯微鏡主要觀察樣品的表面形貌和透明性。而掃描電鏡能夠提供更詳細的表面拓撲信息，包括樣品表面的紋理、形狀、孔隙、凹凸等微觀結構。

成像模式：傳統光學顯微鏡通常以亮場成像為主，樣品在明亮的背景下觀察。而掃描電鏡可以提供不同的成像模式，包括二次電子成像、反射電子成像、能量分散X射線成像等。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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