倒計時丨澤攸科技場發(fā)射臺掃即將亮相2024年全國電子顯微學學術年會
日期：2024-10-16
深入理解先進材料的微觀形貌、結構和化學成分是科研和產品開發(fā)的關鍵所在。不論是從事下一代創(chuàng)新材料的研究，還是致力于提升產品開發(fā)和制造水平，掌握材料的微觀特性都是至關重要的。為了助力科研人員更深入地理解材料的微觀世界，澤攸科技即將在10月17日的2024年全國電子顯微學學術年會上隆重推出創(chuàng)新產品——ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡。
ZEM Ultra臺式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動操作等特點，具備抗震性和穩(wěn)定性。ZEM Ultra配備了高亮度肖特基場發(fā)射電子源，能夠提供2納米分辨率的圖像，并且支持高達50萬倍的放大倍數(shù)。這款電鏡不僅可以進行二次電子(SE)成像，還能進行背散射電子(BSE)成像，并兼容能量色散X射線光譜儀(EDS)和電子背散射衍射(EBSD)，為用戶提供豐富的分析手段。無論是金顆粒還是碳納米管，無論是磷酸鐵鋰還是二氧化硅，ZEM Ultra都能輕松應對，為科學研究提供強大的工具支持。
二氧化硅與磷酸鐵鋰案例展示
碳納米管與鎢粉案例展示
這款設備展示了澤攸科技對于技術創(chuàng)新的不懈追求，我們誠摯邀請您蒞臨2024年全國電子顯微學學術年會，共同見證澤攸科技新品的發(fā)布，探索微觀世界的無限可能。
以上就是澤攸科技場發(fā)射臺掃即將亮相2024年全國電子顯微學學術年會的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。
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作者：澤攸科技