澤攸科技誠邀您共赴2024年度北京市電子顯微學(xué)研討會
日期：2024-07-16
2024年7月19-23日，“2024年度北京市電子顯微學(xué)研討會暨第十三屆全國實(shí)驗(yàn)室科學(xué)管理交流會”將在遼寧省丹東市舉行，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相現(xiàn)場，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機(jī)會與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。
大會將邀請到國內(nèi)專家及知名廠商作精彩的大會報(bào)告，報(bào)告內(nèi)容涉及透射電鏡、掃描電鏡、X射線能譜分析，以及掃描探針顯微鏡（包括STM、AFM等）、激光共聚焦顯微鏡等各種分析技術(shù)及其在材料、生命科學(xué)、化學(xué)化工、環(huán)境、地學(xué)等科學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用研究成果。
參會信息
時(shí)間：7月19日至23日
地點(diǎn)：遼寧省丹東市丹東珍珠島江畔酒店
關(guān)于澤攸
澤攸科技是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)科學(xué)儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售臺式掃描電鏡、原位電鏡解決方案、臺階儀、探針臺等科學(xué)儀器，立志成為具有國際先進(jìn)水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個(gè)產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。
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作者：澤攸科技