掃描電鏡的探針污染如何影響成像,如何清除?
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,探針污染會(huì)顯著影響成像質(zhì)量。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-20
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,探針污染會(huì)顯著影響成像質(zhì)量。
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掃描電子顯微鏡(SEM)?的真空系統(tǒng)對(duì)成像效果有著重要的影響,因?yàn)镾EM的基本工作原理依賴于電子束與樣品相互作用,而這些相互作用需要在高真空環(huán)境下進(jìn)行。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-19
在掃描電子顯微鏡(SEM)?成像過(guò)程中,偽影(artifacts)是指非原生的圖像特征,它們并不反映樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)或成分。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-19
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,工作距離(Working Distance, WD)是指電子槍發(fā)射出的電子束聚焦到樣品表面之間的距離。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-18
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,低導(dǎo)電性的樣品通常會(huì)引發(fā)一系列問(wèn)題,主要是由于電子束與樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的電子無(wú)法有效地從樣品中逸出,導(dǎo)致樣品表面積累電荷。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,分析樣品表面的化學(xué)成分通常依賴于 能量色散X射線光譜(EDS 或 EDX) 或 波長(zhǎng)色散X射線光譜(WDS) 等附加檢測(cè)器。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,工作距離(Working Distance, WD) 是指樣品表面到物鏡(聚焦透鏡)的距離。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-13
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,測(cè)量顆粒的大小和分布通常需要結(jié)合圖像采集和后期圖像處理分析。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-13