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在掃描電鏡（SEM）中，畸變（distortion）是指圖像中的形狀、尺寸或比例的變化，可能導致不準確的分析或失真的圖像?；兺ǔＳ啥鄠€因素引起，包括電子束、樣品的幾何形狀、掃描系統、儀器設置等。為了獲得高質量、無畸變的掃描電鏡圖像，需要采取一些預防措施并進行適當的調整。

1. 確保樣品的良好制備

平整樣品表面： 不平整的樣品表面會導致掃描電鏡圖像中的畸變，特別是在高倍率下。樣品表面應該盡量平整，以避免電子束在不同的深度區域產生不同的散射，導致圖像失真。

合適的樣品厚度： 樣品過厚可能導致電子束穿透不完全，產生陰影效應和畸變。樣品過薄則可能導致樣品損壞或降低電子束的檢測效率。適當的厚度有助于獲得高質量的圖像。

正確的導電涂層： 絕緣樣品需要涂上一層薄薄的導電涂層（如金、鉑或碳涂層），以避免電子束與樣品表面之間產生電荷積累（charging），這種現象可能會導致圖像的畸變。

2. 優化電子束參數

電子束聚焦： 確保電子束的聚焦精度，以避免產生失焦效應，進而導致圖像模糊或畸變。使用電子束聚焦系統（如電子槍、聚焦透鏡等）進行精細調節。

束斑大?。⊿pot Size）： 在掃描電鏡中，束斑的大小決定了電子束的聚焦程度。較小的束斑可以提供更高的分辨率，但也可能增加畸變。根據需要調整束斑大小，在分辨率與畸變之間找到平衡。

電子束的加速電壓： 過高的加速電壓可能導致樣品的表面物質被過度透過，產生二次電子散射，進而導致圖像畸變。較低的加速電壓可減少此類影響，但可能降低分辨率。選擇合適的電壓可以減少畸變。

3. 調整掃描模式和探測方式

掃描線和掃描方式： 采用合適的掃描方式（如逐行掃描、對角線掃描等）可以避免畸變的出現。一般來說，線性掃描是常見的掃描方式，但某些情況下可以選擇螺旋掃描等方式，以減小畸變。

探測器設置： 不同類型的探測器（如二次電子探測器、背散射電子探測器）對圖像的影響也不同。選擇合適的探測器類型和探測方式可以避免因探測器本身造成的畸變。

4. 樣品定位與調平

樣品的精確定位： 樣品在掃描電鏡中的定位不當可能會導致畸變。確保樣品在掃描區域內正確定位，避免樣品發生傾斜或偏移。

樣品傾斜調整： 在某些情況下，樣品表面與電子束的入射角度不匹配可能會導致幾何畸變。通過適當調整樣品的傾斜角度，可以改善圖像質量，減少畸變。

5. 儀器校準與維護

儀器校準： 定期進行掃描電鏡儀器的校準，包括電子束的幾何校準、掃描系統的幾何校準和成像系統的對焦校準。儀器校準有助于減少由設備誤差引起的圖像畸變。

校準標準樣品： 使用已知尺寸和形狀的標準樣品進行校準，可以確保儀器的準確性和避免因儀器誤差而產生的畸變。

6. 溫度和振動控制

溫度控制： 掃描電鏡的溫度變化可能會影響樣品的尺寸和形狀，從而引起圖像的畸變。盡量避免溫度波動，并確保樣品和電子束系統在穩定的溫度環境下運行。

振動控制： 在掃描電鏡圖像采集過程中，任何外部震動（如建筑物震動、氣流等）都可能導致圖像模糊和畸變。應在防振環境中操作掃描電鏡，或使用專門的防振平臺。

7. 圖像后處理

幾何畸變矯正： 使用圖像處理軟件對圖像進行幾何畸變矯正。例如，使用校正算法來修復由于掃描系統或鏡頭造成的幾何畸變。圖像軟件如ImageJ、Adobe Photoshop等可以用來進行幾何畸變的后期修正。

畸變補償： 一些現代掃描電鏡系統提供內建的畸變補償功能，可以自動識別并調整掃描中的畸變。

8. 保持適當的放大倍率

避免過高的放大倍率： 在掃描電鏡中，過高的放大倍率可能導致視野過小且不易聚焦，這可能導致圖像的畸變或失真。在高倍率下，確保焦點準確，避免因過高的放大倍率導致畸變。

以上就是澤攸科技小編分享的如何避免掃描電鏡圖像中的畸變。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢