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掃描電鏡（SEM）圖像中的偽影（artifact）是指圖像中由于樣品制備、掃描過程或設備問題等因素所產生的虛假或不真實的結構，這些偽影通常與實際的樣品結構無關。偽影的存在可能嚴重影響圖像分析的準確性，因此需要有效地識別和消除。以下是常見的偽影類型以及相應的消除方法：

常見的偽影類型

樣品表面污染偽影

表現：由于樣品表面存在油污、水分、指紋等污染物，掃描電鏡圖像可能出現不均勻的灰度或不規則的斑點。

消除方法：清潔樣品表面：使用等離子清潔機、超聲波清洗、或使用適當的溶劑（如異丙醇）清潔樣品表面，去除污染物。

金屬涂層：對于非導電樣品，使用金屬涂層（如金、鉑等）可以減少污染物的影響，同時提高圖像的質量。

樣品充電偽影

表現：當樣品為非導電材料時，電子束轟擊時可能會導致表面電荷積累，產生電荷效應，從而導致圖像失真（如亮斑、對比度不均等）。

消除方法：金屬涂層：給樣品涂上一層薄薄的金屬（如金、鉑）以增加導電性，減少電荷積累。

使用低電壓掃描：通過降低加速電壓，可以減少電子束穿透深度，減少電荷積累的可能性。

使用導電膠帶或噴霧：在樣品的非導電表面使用導電膠帶或噴霧以提高其導電性。

增加樣品的導電性：對非導電材料進行適當的表面處理，增加其表面的導電性。

樣品表面粗糙度偽影

表現：樣品表面不均勻（如存在微小凹凸不平）會導致掃描電鏡圖像中出現偽影，影響細節清晰度。常見的偽影包括不規則的紋理和陰影。

消除方法：表面拋光：對樣品表面進行拋光處理，減少表面粗糙度。

選擇合適的掃描模式：使用較低的加速電壓和較小的掃描區域，能夠減少表面不均勻帶來的影響。

電子束掃描偽影

表現：在掃描過程中，電子束的掃描路徑或掃描率設置不當，可能導致條紋、條形結構或其他類似圖案的偽影。

消除方法：調整掃描速度：適當調整掃描速度（例如，增大掃描線間距），使得圖像細節清晰。

增加掃描次數：增加掃描次數或多次平均圖像，以減少掃描過程中的偽影。

優化掃描參數：檢查和調整掃描的偏轉電壓、掃描頻率和同步系統，以確保掃描過程的穩定。

聚焦誤差和畸變偽影

表現：由于焦距不準確、電子束無法聚焦，導致圖像模糊或邊緣變形。

消除方法：正確對焦：使用合適的對焦模式（例如，通過調整樣品的高度或微調焦點來進行手動對焦），確保圖像的清晰度。

校正畸變：檢查和調整掃描電鏡的幾何畸變，確保掃描時的圖像失真小。

透射電流偽影

表現：透過樣品的電子束（尤其是在使用較高加速電壓時）可能產生額外的二次電子信號，導致圖像中的亮區或邊緣增強。

消除方法：降低加速電壓：降低加速電壓可減少電子束的穿透深度，減少二次電子的影響。

改進信號采集方式：采用不同的探測器（如背散射電子探測器）來減少透射電流對圖像的影響。

掃描畸變與掃描模式不匹配

表現：圖像中出現條紋、重復圖案或不均勻的亮度，這通常是由于掃描模式的設置不當（如掃描速度過快或不穩定的偏轉系統）。

消除方法：優化掃描頻率和信號同步：確保掃描的電子束與圖像的刷新頻率同步，避免出現偽影。

檢查系統設置：確保掃描電鏡的偏轉系統和掃描參數設置正確，不會引入掃描誤差。

圖像處理偽影

表現：圖像處理過程中，如過度銳化、去噪或增強對比度，可能產生虛假的邊緣或局部的偽影。

消除方法：謹慎處理：在圖像后處理時避免過度銳化和對比度增強，以避免圖像中產生不真實的邊緣或結構。

使用適當的圖像濾波方法：使用合適的濾波方法（如高斯濾波）去除圖像中的噪聲，同時避免引入偽影。

樣品移動偽影

表現：樣品在掃描過程中發生輕微位移或振動，可能導致圖像模糊或出現條紋。

消除方法：確保樣品穩定：使用高質量的樣品夾持裝置，確保樣品在掃描過程中不會移動或震動。

使用隔振臺：在掃描電鏡工作臺上安裝隔振裝置，以減少外部振動的影響。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡圖像中的偽影及其消除方法。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢