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選擇掃描電鏡（SEM）的電壓需要考慮多個因素，包括樣品類型、所需分辨率、觀察深度等。以下是一些常見的考慮因素：

樣品類型： 不同類型的樣品可能需要不同的電壓來獲得高質量的圖像質量。例如，對于表面光滑的金屬樣品，通常可以使用較低的電壓；而對于生物樣品或納米結構等較細小的樣品，可能需要較高的電壓以獲得更好的分辨率。

分辨率需求： 掃描電鏡的電壓與分辨率之間存在一定的關系。通常來說，較高的電壓可以產生更高的穿透能力和更好的分辨率，但也會增加輻射損傷的風險。因此，在選擇電壓時需要權衡分辨率需求和樣品保護的考慮。

觀察深度： 電子束的穿透深度取決于電壓的大小。較高的電壓可以產生更深的觀察深度，使得可以觀察到更深層次的樣品結構。因此，如果需要觀察樣品內部結構或厚度較大的樣品，可能需要選擇較高的電壓。

樣品保護： 較高的電壓可能會導致樣品受到輻射損傷，因此需要根據樣品的性質和要求來選擇合適的電壓，以平衡圖像質量和樣品保護之間的關系。

在實際應用中，通常需要進行一些測試和優化，以確定掃描電鏡電壓。這可能需要嘗試不同的電壓，并根據所得到的圖像質量和樣品保護情況來進行調整和優化。

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