掃描電子顯微鏡使用方法
日期:2023-04-24
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,其原理是利用電子束掃描樣品表面并收集散射電子、反射電子、二次電子等信號,經過信號的放大、處理和成像后得到高清晰度的樣品表面形貌和微觀結構信息。
下面是掃描電子顯微鏡的基本使用方法:
樣品制備:根據需要制備不同類型的樣品,并確保樣品表面光滑、干燥、無氣泡和灰塵等。
樣品安裝:將樣品放置在樣品臺上,并使用夾具或導電膠將其固定在臺面上,使樣品表面朝向電子槍。
調節參數:打開電子槍和探針槍,根據不同的樣品類型和需要觀察的信息,調節加速電壓、探針電壓、工作距離、放大倍數等參數。
開始觀察:啟動掃描儀器,觀察樣品表面結構,可以采用多種掃描模式和不同角度的觀察方式。
圖像處理:使用圖像處理軟件對采集到的圖像進行處理和分析,可以得到更詳細的信息和精細的圖像。
需要注意的是,在使用掃描電子顯微鏡時,應當注意操作安全和保護儀器,以免損壞設備或造成傷害。
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臺式掃描電鏡
作者:澤攸科技
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