掃描電子顯微鏡的原理
日期:2023-04-24
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種利用電子束與樣品相互作用,獲得高分辨率的顯微成像的儀器。其原理可以簡單描述如下:
電子源發射出電子束,經過一系列的透鏡系統進行聚焦,使得電子束成為一個極細的束。
電子束與樣品相互作用,產生各種信號,如二次電子、反射電子、散射電子等。
收集并處理這些信號,形成樣品的圖像。
其中,二次電子是主要的信號,它們是由于電子束與樣品表面原子相互作用而發射出來的。收集和處理二次電子信號可以獲得樣品的表面形貌和微觀結構信息。
掃描電子顯微鏡在成像時,需要對樣品進行導電處理,以保證電子能夠在樣品表面上流動,而不是被樣品表面電荷所阻擋。常見的導電處理方法包括金屬涂層、碳薄膜涂層、真空鍍膜等。
總的來說,掃描電子顯微鏡利用電子束與樣品相互作用,通過收集并處理二次電子信號,獲得樣品表面的高分辨率圖像。
以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡的原理。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢15756003283(微信同號)。
TAG:
掃描電子顯微鏡
臺式掃描電鏡
作者:澤攸科技
上一篇:掃描電子顯微鏡的樣品制備方法
下一篇:掃描電子顯微鏡的原理及應用