掃描電鏡對支撐基底的要求
日期：2023-03-15
支撐基底是掃描電鏡（SEM）樣品的重要組成部分，對SEM成像效果具有重要影響。以下是SEM對支撐基底的要求：
導電性好：SEM使用的支撐基底須具有良好的導電性能，以避免在成像過程中電荷積聚導致的干擾信號。
機械穩定性高：支撐基底須具有足夠的機械穩定性和剛性，以保證在樣品加工、制備和成像過程中的穩定性。
表面平整度高：支撐基底的表面應該非常平整，以避免在成像過程中產生的高低起伏或其他形狀不規則的干擾信號。
光學性能好：支撐基底的光學性能應該好，即在SEM成像過程中不會出現光學畸變或干擾信號。
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作者：澤攸科技
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