澤攸科技誠(chéng)邀您共赴2024年度北京市電子顯微學(xué)研討會(huì)

2024年7月19-23日，“2024年度北京市電子顯微學(xué)研討會(huì)暨第十三屆全國(guó)實(shí)驗(yàn)室科學(xué)管理交流會(huì)”將在遼寧省丹東市舉行。

掃描電鏡如何處理樣品充電效應(yīng)

在使用掃描電子顯微鏡（SEM）時(shí)，樣品充電效應(yīng)是一個(gè)常見問(wèn)題，特別是在觀察非導(dǎo)電材料時(shí)。

掃描電子顯微鏡（SEM）?本身主要用于表面形貌的高分辨成像，但它可以結(jié)合其他分析技術(shù)來(lái)進(jìn)行成分分析。

掃描電鏡?樣品臺(tái)無(wú)法移動(dòng)或傾斜可能是由于機(jī)械、電氣或軟件方面的問(wèn)題引起的。

選擇合適的掃描模式和放大倍率對(duì)于獲得高質(zhì)量的掃描電鏡（SEM）?圖像至關(guān)重要。

ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺(jué)證據(jù)，幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性，這些特性的變化直接關(guān)聯(lián)到材料的光學(xué)和電物理性能。

提高掃描電鏡清晰度的方法包括：

掃描電鏡的工作距離（Working Distance, WD）是指從樣品表面到物鏡下端的距離。