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    掃描電子顯微鏡每一個設計作品都精妙

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    ZEM20臺式掃描電鏡在硅片與芯片質量檢測中的應用

    日期:2023-11-24

    隨著我國半導體產業的高速發展,對硅片與芯片微細結構的表征與質量控制提出了更高要求。澤攸科技自主研發的ZEM20臺式掃描電鏡以其高質量的成像分辨率、豐富的信號檢測模式,成為半導體行業理想的微區形貌與缺陷檢測工具。

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    本文以ZEM20臺式掃描電鏡為平臺,對工業級硅片表面及芯片引腳線進行成像表征。結果表明,ZEM20臺式掃描電鏡可以清晰呈現硅片表層污染物與劃痕情況,并識別出芯片引腳結合區域的微小裂紋,為半導體器件的質量控制與工藝優化提供有力技術支撐。

    硅片作為半導體器件加工的基板,其表面質量直接影響后續制程的產品良率。本實驗以光刻后的硅片為研究對象,主要由光亮面與晶棱面兩部分組成。從檢測結果可見,光亮面存在散在分布的顆粒污染,主要成分為硅化合物;而晶棱面則可觀察到大量劃痕,具有一定方向性。

    本文以ZEM20臺式掃描電鏡為平臺,對工業級硅片表面及芯片引腳線進行成像表征。結果表明,ZEM20臺式掃描電鏡可以清晰呈現硅片表層污染物與劃痕情況,并識別出芯片引腳結合區域的微小裂紋,為半導體器件的質量控制與工藝優化提供有力技術支撐。

    硅片作為半導體器件加工的基板,其表面質量直接影響后續制程的產品良率。本實驗以光刻后的硅片為研究對象,主要由光亮面與晶棱面兩部分組成。從檢測結果可見,光亮面存在散在分布的顆粒污染,主要成分為硅化合物;而晶棱面則可觀察到大量劃痕,具有一定方向性。

    光刻后的硅片表征圖

    光刻后的硅片表征圖

    光刻后的硅片表征圖

    光刻后的硅片表征圖

    上述結果表明硅片表面存在一定的機械損傷與污染情況,這可能源于切割工藝及后處理不當引起。也驗證了ZEM20臺式掃描電鏡可以有效識別硅片表面微小缺陷,為制程優化與質量改進提供依據。

    引腳線作為連接芯片與外部電路的關鍵結構,其質量好壞直接關系到器件的使用壽命。本實驗選擇EPROM存儲芯片進行表征,考察引腳線與芯片連接區域的完整性。從ZEM20獲得的圖像可以明確識別出連接區域邊界無融合的裂紋,該結構損傷可能源于線焊接應力過大導致。

    芯片引腳線表征圖

    芯片引腳線表征圖

    芯片引腳線表征圖

    由此能看出ZEM20臺式掃描電鏡可以清晰顯示出EPROM芯片微區的關鍵結構損傷情況。其高分辨率的電子成像與多樣的探測模式,使其成為各類芯片質量控制的理想工具,為提升產品良率和加快量產提供了有力保障。

    綜上,澤攸科技ZEM20臺式掃描電鏡可直接成像硅片表面粗糙度與劃痕情況,清晰呈現芯片微區關鍵結構,是半導體材料與器件微觀形貌表征與質量檢測的有力工具,可廣泛應用于微電子領域的科研與生產過程,為我國半導體設備的自主可控提供堅實支撐。

    ZEM20臺式掃描電鏡

    ZEM20臺式掃描電鏡


    TAG:

    作者:澤攸科技


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