澤攸案例┃ZEM18電鏡在教育科研領(lǐng)域的應(yīng)用案例
日期：2023-08-16
隨著科技的進步和教育水平的提高，電子顯微技術(shù)在科研和教學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。掃描電鏡作為電子顯微技術(shù)中的重要設(shè)備，因其可視化觀測和表征樣品表面微納結(jié)構(gòu)的獨特功能，在各類材料和設(shè)備的研發(fā)過程中發(fā)揮著重要作用。
例如在納米科技發(fā)展過程中，掃描電鏡可實現(xiàn)對各種納米材料和器件的直觀表征和性能測試。無論是像科幻電影中展示的納米飛刃，還是當(dāng)前廣泛研究的碳納米管、納米線等一維納米材料，掃描電鏡都成為衡量其制備工藝和功能實現(xiàn)的關(guān)鍵設(shè)備。可以說,掃描電鏡技術(shù)的進步推動并見證了納米科技的快速發(fā)展。在科教領(lǐng)域，掃描電鏡也成為展示各類材料形貌與結(jié)構(gòu)的重要教學(xué)輔助手段。電鏡的應(yīng)用不僅推動了科學(xué)研究的發(fā)展，也激發(fā)學(xué)生的創(chuàng)新思維，啟迪科技教育的進步。
本期內(nèi)容，就讓我們一起看看澤攸科技的ZEM18臺式掃描電鏡在教育科研領(lǐng)域的應(yīng)用案例吧。
功能納米材料
管狀納米材料
納米管
微粒檢測
氧化鋁薄膜
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作者：澤攸科技