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掃描電鏡對樣品的導電性有一定的要求。由于SEM使用電子束來觀察樣品表面，樣品的導電性對于獲取清晰的圖像和準確的表面形貌信息非常重要。

一般來說，SEM對導電性的要求可以總結(jié)如下：

導電性材料：SEM樣品應選擇具有較好導電性的材料。導電性良好的材料能夠在電子束照射下有效地釋放電荷，防止靜電積聚和電荷積累的影響。金屬是一種良好的導電材料，常用的金屬樣品包括金、銀、銅和鋁等。此外，碳復合材料或?qū)щ娡繉右部梢詰糜诜菍щ姌悠贰?/span>

表面導電：樣品表面應保持導電性，以確保電子束能夠在樣品表面均勻分布和散射。對于非導電樣品，常常需要在SEM觀察前進行特殊處理，如金屬鍍膜、碳鍍膜或金屬涂覆等，以提高樣品的導電性。

地線連接：在SEM中觀察樣品時，為了消除靜電干擾，樣品通常需要與SEM系統(tǒng)的地線連接。地線連接有助于將電荷引導到地，以防止靜電干擾和電子束偏轉(zhuǎn)。

避免充電效應：在SEM觀察過程中，樣品表面可能發(fā)生充電效應，導致圖像失真或信號偏移。為了避免充電效應，可以采用較低的電子束能量、較小的探針電流和合適的掃描速度等操作參數(shù)。

ZEM18臺式掃描電鏡

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